當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 電子顯微鏡 > 掃描電鏡 > JED-2300/2300F掃描電鏡能譜儀
簡要描述:JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀,可進(jìn)行非導(dǎo)電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station",通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺聯(lián)動(dòng)使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析,可實(shí)現(xiàn)分析結(jié)果和分析位置自動(dòng)對應(yīng)。可適用于日本電子多種型號電鏡。
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
JED-2300/2300F系列掃描電鏡能譜儀,可進(jìn)行非導(dǎo)電元素微區(qū)分析。使用JEOL*的軟件“ Analysis Station”,通過與SEM的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺聯(lián)動(dòng)使用,可以進(jìn)行大范圍的觀察和分析,可實(shí)現(xiàn)分析結(jié)果和分析位置自動(dòng)對應(yīng)。掃描電鏡能譜儀通過檢測被電子束激發(fā)出的樣品的特征X射線,確定樣品含有的元素及成分比,可以進(jìn)行微區(qū)的點(diǎn)分析、線分析及面分析。
適用JSM-IT200/IT500 等
可以在SEM圖像上分析位置,開始EDS分析。
將采集的X射線譜圖和Visual PeakID(VID)合成的譜圖進(jìn)行比較,定性結(jié)果可以通過視覺、 數(shù)值判斷。
Play Back (回放) 功能
用JEOL制造的EDS采集的元素面分布圖,不僅保存了每一幀中各個(gè)像素點(diǎn)的譜圖,還對每一幀中電子束形成的圖像進(jìn)行了存儲。利用Play back功能,可以進(jìn)行多角度的分析如觀測譜圖等隨時(shí)間的變化等。測試后數(shù)據(jù)能夠回放,可以觀察到樣品按時(shí)間順序發(fā)生的變化,這是至今為止無法實(shí)現(xiàn)的。此外,利用Play Back功能還可以截取任意的畫面。
Smile Station™ 2
Smile Station™2功能通過在多個(gè)視野上自動(dòng)進(jìn)行分析,生成SEM和元素面分布圖的無縫蒙太奇圖像,也可以在取得的視野上進(jìn)行連續(xù)的元素面分布和點(diǎn)分析等。
Dry SD 檢測器
Dry SD 檢測器(SDD檢測器)與傳統(tǒng)的EDS檢測器不同,不需要液氮制冷。使用快速簡單,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了高分辨率和高計(jì)數(shù)率處理。
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